良率(半导体) Yield (Semiconductor)

良率是指晶圆生产出的无缺陷、可用芯片所占的百分比。每当引入新的工艺节点时,良率都会大幅下降,并随着工艺成熟而逐步提升,这也是早期节点产品稀缺且价格高昂的原因。良率是决定晶圆厂新工艺产能爬坡速度的关键因素,也是单片芯片成本的主要驱动因素。参见代工厂经济学101。