良率（半導體） Yield (Semiconductor)

良率是指晶圓所生產出的可用、無缺陷晶片所佔的百分比。每當導入新的製程節點時，良率會大幅下滑，隨著製程成熟才逐步提升，這也是為何早期製程節點的產品供應稀少且價格高昂。良率是決定晶圓廠能多快量產新製程的關鍵限制因素，也是每片晶片成本的主要驅動因素。參見Foundry Economics 101。